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2013年3月26日，由西安芯派電子科技有限公司、西安科技大市場(chǎng)、西安集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展中心、西安高新技術(shù)企業(yè)協(xié)會(huì)主辦的2013西安功率器件測(cè)試應(yīng)用中心關(guān)于高可靠性功率器件及系統(tǒng)的測(cè)試與應(yīng)用技術(shù)的研討會(huì)正式啟動(dòng)，西安市有關(guān)領(lǐng)導(dǎo)、嘉賓代表發(fā)表了啟動(dòng)致辭，近百名來(lái)賓和同行參加了啟動(dòng)儀式。

研討會(huì)為期三天，包括了主題演講、實(shí)驗(yàn)室實(shí)地參觀考察、廠家來(lái)賓代表分組討論和學(xué)校講座等內(nèi)容，豐富精彩的內(nèi)容安排讓遠(yuǎn)道而來(lái)的嘉賓紛紛表示不虛此行，獲益良多。

參加啟動(dòng)儀式的嘉賓（由右至左）：德國(guó)PVA應(yīng)用專家Kasim Altin先生、美國(guó)ITC公司技術(shù)開(kāi)發(fā)總監(jiān)David J. Lohr先生、西安市集成電路產(chǎn)業(yè)、展中心何小寧主任、西安高新區(qū)管委會(huì)發(fā)展改革和商務(wù)局局長(zhǎng)賈強(qiáng)先生、西安市科技局副局長(zhǎng)高繼平先生、西安科技大市場(chǎng)主任張偉國(guó)先生、西安芯派電子科技有限公司：羅義先生、西安半導(dǎo)體功率器件測(cè)試應(yīng)用中心主任劉琛女士

主題演講：

為了充分實(shí)現(xiàn)測(cè)試應(yīng)用中心的平臺(tái)作用，讓與會(huì)來(lái)賓了解最新的業(yè)內(nèi)動(dòng)態(tài)和行業(yè)資訊，此次研討會(huì)主辦方特邀請(qǐng)了國(guó)內(nèi)外知名企業(yè)的行業(yè)專家與管理高層，就半導(dǎo)體功率器件測(cè)試技術(shù)的發(fā)展以及技術(shù)應(yīng)用和系統(tǒng)解決方案等相關(guān)主題進(jìn)行深入交流和探討。主題演講現(xiàn)場(chǎng)氣氛活躍，討論熱烈，與會(huì)來(lái)賓對(duì)嘉賓的演講積極提問(wèn)互動(dòng)，演講嘉賓逐一全面的解答，充分促進(jìn)了企業(yè)與上下游的溝通。專家們精彩的演講在熱烈的掌聲中圓滿結(jié)束。

測(cè)試應(yīng)用中心參觀：

西安功率器件測(cè)試應(yīng)用中心成立以來(lái)，多次接待同行業(yè)專家和合作院校相關(guān)專業(yè)學(xué)生參觀考察，得到專家和學(xué)校的一致肯定。參加此次研討會(huì)的省內(nèi)外來(lái)賓也對(duì)測(cè)試中心充滿期待。

3月27日，在西安芯派科技總經(jīng)理羅義先生和測(cè)試應(yīng)用中心劉琛女士的帶領(lǐng)下，與會(huì)嘉賓參觀了測(cè)試應(yīng)用中心，實(shí)驗(yàn)室主任劉琛女士對(duì)實(shí)驗(yàn)室設(shè)備逐一進(jìn)行了介紹，參觀來(lái)賓針對(duì)中心的一些新進(jìn)設(shè)備提出了技術(shù)疑問(wèn)，設(shè)備專家逐一答疑解惑，并與來(lái)賓共同探討功率器件測(cè)試的新技術(shù)。參觀結(jié)束后來(lái)賓紛紛對(duì)實(shí)驗(yàn)室的建設(shè)成果表示肯定，對(duì)實(shí)驗(yàn)室未來(lái)的發(fā)展充滿信心。

分組討論及成果：

結(jié)束了3月27日上午的測(cè)試應(yīng)用中心參觀和技術(shù)交流，在3月27日下午，來(lái)賓和同行在輕松而熱烈的氛圍下進(jìn)行了分組討論，分別就器件測(cè)試、失效分析、系統(tǒng)測(cè)試和可靠性試驗(yàn)進(jìn)行了深入的探討。

器件測(cè)試討論組有測(cè)試應(yīng)用中心技術(shù)人員、半導(dǎo)體界同行和ITC技術(shù)總監(jiān)Dave先生參加，大家對(duì)于依據(jù)ITC57300動(dòng)態(tài)設(shè)備實(shí)際測(cè)試尤其MOSFET反向恢復(fù)測(cè)試項(xiàng)目很感興趣，紛紛提出意見(jiàn)見(jiàn)解，討論中解決了如何通過(guò)對(duì)相關(guān)設(shè)置（VDD,Lload，Pusle Duration，Vg）調(diào)整以提高di/dt測(cè)試條件設(shè)置，滿足客戶在研發(fā)階段的極限性能測(cè)試，同時(shí)極大地?cái)U(kuò)展了器件測(cè)試實(shí)驗(yàn)室的測(cè)試能力。

在討論中，F(xiàn)airchild高級(jí)測(cè)試工程師Edward先生，ITC技術(shù)總監(jiān)Dave先生就MIL-STD-750F中如何測(cè)試二極管 Peak dv/dt項(xiàng)目的標(biāo)準(zhǔn)方法、電路搭建、實(shí)驗(yàn)室現(xiàn)有設(shè)備對(duì)該方法的具體實(shí)施等問(wèn)題展開(kāi)熱烈的討論，并對(duì)測(cè)試模組+Labview軟控的架構(gòu)的實(shí)現(xiàn)方案進(jìn)行了探討。在失效分析討論小組，國(guó)際知名的超聲波掃描設(shè)備供應(yīng)商PVA公司的Kasim Altin先生對(duì)于各電源公司，高校，封裝廠商提出的在應(yīng)用中的實(shí)際問(wèn)題，以現(xiàn)場(chǎng)演示和理論解說(shuō)結(jié)合的方式，吸引了眾多技術(shù)人員的注意。 Kasim Altin先生對(duì)某大型電子公司的金屬特殊封裝產(chǎn)品所做的無(wú)損超聲波測(cè)試，解決了困擾該公司多年在此類金屬封裝產(chǎn)品方面難以通過(guò)無(wú)損檢測(cè)來(lái)控制缺陷的問(wèn)題。系統(tǒng)測(cè)試小組的工程師們也與廣大行業(yè)專家進(jìn)行了針對(duì)性的技術(shù)交流，其中系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室主管朱鵬先生、系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)室應(yīng)用工程師沈杰女士等人與美國(guó)HALT/HASS應(yīng)用專家Walter Wu先生討論并初步確定了HALT/HASS實(shí)驗(yàn)中夾具的設(shè)計(jì)、電路板級(jí)別的夾具與電源系統(tǒng)級(jí)別夾具的設(shè)計(jì)區(qū)別與差異等技術(shù)問(wèn)題。同時(shí)，測(cè)試中心的技術(shù)人員還與美國(guó)國(guó)際整流公司（IR）西安應(yīng)用中心的工程師余名浩先生就功率器件在客戶端應(yīng)用中出現(xiàn)的新趨勢(shì)、新問(wèn)題、新技術(shù)進(jìn)行了探討。

關(guān)于可靠性實(shí)驗(yàn)，測(cè)試應(yīng)用中心的工程師們和國(guó)富奇中國(guó)區(qū)銷售總經(jīng)理許忠良先生，以及工信部四院，電子十三所等研究機(jī)構(gòu)和廠商對(duì)于可靠性環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展、最新技術(shù)、實(shí)際遇到的種種問(wèn)題都進(jìn)行了討論與交流，尤其是對(duì)于高低溫沖擊試驗(yàn)不同模式的選擇與優(yōu)化提出了很好的建議，許總指出時(shí)間優(yōu)化模式是在確保試驗(yàn)有效性的同時(shí)節(jié)省能源；正常模式是以時(shí)間為準(zhǔn)的最常見(jiàn)模式；時(shí)間優(yōu)化模式是對(duì)于試驗(yàn)樣品較大情況下導(dǎo)致升溫速率變小而設(shè)計(jì)的以溫度達(dá)到相關(guān)要求開(kāi)始計(jì)時(shí)的模式。不同的測(cè)試需求可以選取相對(duì)應(yīng)的模式，對(duì)于行業(yè)內(nèi)評(píng)估產(chǎn)品質(zhì)量、設(shè)計(jì)可靠性試驗(yàn)有著極大的指導(dǎo)意義。

學(xué)校講座：

西安功率器件測(cè)試應(yīng)用中心秉持的理念之一是為校園內(nèi)的未來(lái)半導(dǎo)體行業(yè)從業(yè)者提供盡可能的協(xié)助與支持，測(cè)試中心建立至今，已在學(xué)校舉辦過(guò)數(shù)十場(chǎng)的專題演講，在西安高校產(chǎn)生了廣泛的影響。

針對(duì)目前大學(xué)生理論知識(shí)豐富而實(shí)踐能力不足的狀況，受西安電子科技大學(xué)、西北工業(yè)大學(xué)和長(zhǎng)安大學(xué)的邀請(qǐng)，3月28日至29日，美國(guó)ITC技術(shù)總監(jiān)David J. Lohr先生、德國(guó)富奇許忠良先生及德國(guó)PVA高級(jí)應(yīng)用工程師Kasim Altin先生走進(jìn)高校進(jìn)行了五場(chǎng)關(guān)于功率循環(huán)、間歇壽命試驗(yàn)的應(yīng)用、功率器件可靠性環(huán)境測(cè)試、針對(duì)半導(dǎo)體器件應(yīng)用的超聲波成像與分析技術(shù)最新發(fā)展的專題演講，系列講座從測(cè)試設(shè)備的使用和測(cè)試數(shù)據(jù)的分析入手，著重于測(cè)試?yán)碚撆c最新技術(shù)的結(jié)合，對(duì)相關(guān)專業(yè)學(xué)生開(kāi)展了多方位的教育。 David先生引用典型測(cè)試曲線，給同學(xué)們做了詳細(xì)的講解和精辟的分析，并回答了同學(xué)提出的問(wèn)題，讓同學(xué)們真真切切的感受到了理論和實(shí)踐相結(jié)合的重要性。

系列演講受到了在校大學(xué)生和老師以及專業(yè)聽(tīng)眾的歡迎和高度評(píng)價(jià)，演講教室座無(wú)虛席。學(xué)生們?cè)谔釂?wèn)、討論環(huán)節(jié)非?；钴S。紛紛表示此次講座讓自己獲益良多，對(duì)下次的專題講座充滿了期待。