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2013年3月26日，由西安芯派電子科技有限公司、西安科技大市場、西安集成電路產業發展中心、西安高新技術企業協會主辦的2013西安功率器件測試應用中心關于高可靠性功率器件及系統的測試與應用技術的研討會正式啟動，西安市有關領導、嘉賓代表發表了啟動致辭，近百名來賓和同行參加了啟動儀式。

研討會為期三天，包括了主題演講、實驗室實地參觀考察、廠家來賓代表分組討論和學校講座等內容，豐富精彩的內容安排讓遠道而來的嘉賓紛紛表示不虛此行，獲益良多。

參加啟動儀式的嘉賓（由右至左）：德國PVA應用專家Kasim Altin先生、美國ITC公司技術開發總監David J. Lohr先生、西安市集成電路產業、展中心何小寧主任、西安高新區管委會發展改革和商務局局長賈強先生、西安市科技局副局長高繼平先生、西安科技大市場主任張偉國先生、西安芯派電子科技有限公司：羅義先生、西安半導體功率器件測試應用中心主任劉琛女士

主題演講：

為了充分實現測試應用中心的平臺作用，讓與會來賓了解最新的業內動態和行業資訊，此次研討會主辦方特邀請了國內外知名企業的行業專家與管理高層，就半導體功率器件測試技術的發展以及技術應用和系統解決方案等相關主題進行深入交流和探討。主題演講現場氣氛活躍，討論熱烈，與會來賓對嘉賓的演講積極提問互動，演講嘉賓逐一全面的解答，充分促進了企業與上下游的溝通。專家們精彩的演講在熱烈的掌聲中圓滿結束。

測試應用中心參觀：

西安功率器件測試應用中心成立以來，多次接待同行業專家和合作院校相關專業學生參觀考察，得到專家和學校的一致肯定。參加此次研討會的省內外來賓也對測試中心充滿期待。

3月27日，在西安芯派科技總經理羅義先生和測試應用中心劉琛女士的帶領下，與會嘉賓參觀了測試應用中心，實驗室主任劉琛女士對實驗室設備逐一進行了介紹，參觀來賓針對中心的一些新進設備提出了技術疑問，設備專家逐一答疑解惑，并與來賓共同探討功率器件測試的新技術。參觀結束后來賓紛紛對實驗室的建設成果表示肯定，對實驗室未來的發展充滿信心。

分組討論及成果：

結束了3月27日上午的測試應用中心參觀和技術交流，在3月27日下午，來賓和同行在輕松而熱烈的氛圍下進行了分組討論，分別就器件測試、失效分析、系統測試和可靠性試驗進行了深入的探討。

器件測試討論組有測試應用中心技術人員、半導體界同行和ITC技術總監Dave先生參加，大家對于依據ITC57300動態設備實際測試尤其MOSFET反向恢復測試項目很感興趣，紛紛提出意見見解，討論中解決了如何通過對相關設置（VDD,Lload，Pusle Duration，Vg）調整以提高di/dt測試條件設置，滿足客戶在研發階段的極限性能測試，同時極大地擴展了器件測試實驗室的測試能力。

在討論中，Fairchild高級測試工程師Edward先生，ITC技術總監Dave先生就MIL-STD-750F中如何測試二極管 Peak dv/dt項目的標準方法、電路搭建、實驗室現有設備對該方法的具體實施等問題展開熱烈的討論，并對測試模組+Labview軟控的架構的實現方案進行了探討。在失效分析討論小組，國際知名的超聲波掃描設備供應商PVA公司的Kasim Altin先生對于各電源公司，高校，封裝廠商提出的在應用中的實際問題，以現場演示和理論解說結合的方式，吸引了眾多技術人員的注意。 Kasim Altin先生對某大型電子公司的金屬特殊封裝產品所做的無損超聲波測試，解決了困擾該公司多年在此類金屬封裝產品方面難以通過無損檢測來控制缺陷的問題。系統測試小組的工程師們也與廣大行業專家進行了針對性的技術交流，其中系統實驗室主管朱鵬先生、系統實驗室應用工程師沈杰女士等人與美國HALT/HASS應用專家Walter Wu先生討論并初步確定了HALT/HASS實驗中夾具的設計、電路板級別的夾具與電源系統級別夾具的設計區別與差異等技術問題。同時，測試中心的技術人員還與美國國際整流公司（IR）西安應用中心的工程師余名浩先生就功率器件在客戶端應用中出現的新趨勢、新問題、新技術進行了探討。

關于可靠性實驗，測試應用中心的工程師們和國富奇中國區銷售總經理許忠良先生，以及工信部四院，電子十三所等研究機構和廠商對于可靠性環境試驗標準的發展、最新技術、實際遇到的種種問題都進行了討論與交流，尤其是對于高低溫沖擊試驗不同模式的選擇與優化提出了很好的建議，許總指出時間優化模式是在確保試驗有效性的同時節省能源；正常模式是以時間為準的最常見模式；時間優化模式是對于試驗樣品較大情況下導致升溫速率變小而設計的以溫度達到相關要求開始計時的模式。不同的測試需求可以選取相對應的模式，對于行業內評估產品質量、設計可靠性試驗有著極大的指導意義。

學校講座：

西安功率器件測試應用中心秉持的理念之一是為校園內的未來半導體行業從業者提供盡可能的協助與支持，測試中心建立至今，已在學校舉辦過數十場的專題演講，在西安高校產生了廣泛的影響。

針對目前大學生理論知識豐富而實踐能力不足的狀況，受西安電子科技大學、西北工業大學和長安大學的邀請，3月28日至29日，美國ITC技術總監David J. Lohr先生、德國富奇許忠良先生及德國PVA高級應用工程師Kasim Altin先生走進高校進行了五場關于功率循環、間歇壽命試驗的應用、功率器件可靠性環境測試、針對半導體器件應用的超聲波成像與分析技術最新發展的專題演講，系列講座從測試設備的使用和測試數據的分析入手，著重于測試理論與最新技術的結合，對相關專業學生開展了多方位的教育。 David先生引用典型測試曲線，給同學們做了詳細的講解和精辟的分析，并回答了同學提出的問題，讓同學們真真切切的感受到了理論和實踐相結合的重要性。

系列演講受到了在校大學生和老師以及專業聽眾的歡迎和高度評價，演講教室座無虛席。學生們在提問、討論環節非常活躍。紛紛表示此次講座讓自己獲益良多，對下次的專題講座充滿了期待。